Tài liệu trình bày các phương pháp phân loại và phát hiện trong học máy, bao gồm các kỹ thuật học có giám sát và không giám sát. Nó đề cập đến các thuật toán như máy vector hỗ trợ, phân loại Bayes và phân cụm K-means, cùng với phân tích về tỷ lệ lỗi và hàm mất mát. Tài liệu cũng cung cấp thông tin chi tiết về xác suất hậu nghiệm và cách áp dụng trong các bài toán phân loại.
Related topics: