O documento discute a integração de circuitos eletrônicos e os desafios da contaminação. Apresenta níveis de integração de circuitos como SSI, MSI, LSI e VLSI. Também discute como contaminantes podem degradar o desempenho e confiabilidade de transistores MOS, agindo como armadilhas de carga. Por fim, aborda formas de limpeza e tendências históricas e futuras da miniaturização de componentes.